큐알티(QRT)가 무선주파수(RF) 반도체 수명을 미리 파악할 수 있는 테스트 장비를 개발했다. 차세대 이동통신·우주항공·방산 분야에서 급성장하는 질화갈륨(GaN) RF 반도체 시장을 겨냥했다.
큐알티는 최근 RF 반도체 신뢰성 평가 장비 'Q-RoLA'를 개발, 15일(현지시간)부터 미국 샌프란시스코에서 열리는 국제 마이크로웨이브 심포지엄(IMS) 2025에서 첫 공개했다.
Q-RoLA는 실제 RF 반도체가 동작하는 환경의 각종 스트레스를 재현, 제품 수명을 측정하는 장비다. 반도체는 열·전류·전압 변화 등 스트레스에 따라 화학·물리적 성질이 나빠지는 열화 현상이 발생하는데, 이는 제품 수명과 직결된다. 반도체 개발 전후 과정에서 품질과 안정성을 확보하기 위해 신뢰성 테스트가 필수인 이유다.
Q-RoLA는 RF 반도체의 실제 사용 조건을 모방해 추정되는 수명을 측정한다. 최근 RF 반도체에 주로 쓰이는 GaN 고전자이동트랜지스터(HEMT) 열화를 야기하는 원인 별로 스트레스를 부여하는 방식이다.
열·전류·전압 등 스트레스를 주는 속도를 높이거나(가속 수명), 일정 시간 동안 스트레스에 노출시켰을 시 정상적으로 동작하는지(고온 동작 수명) 파악한다.
이를 통해 RF 반도체 가동 중 전류가 바로 회복되지 않는 현상, 출력 전력의 감소, 전하 문제에 따른 성능 저하 등을 확인할 수 있다. 궁극적으로 RF 반도체에 기대되는 예상 수명과 결함 발생 여부를 사전 파악한다. 기존 테스트 방식과 견줘 평가 시간도 대폭 단축 시킬 수 있다고 회사는 부연했다.
큐알티는 Q-RoLA를 앞세워 GaN RF 반도체 시장 공략을 본격화할 방침이다. GaN RF 반도체는 기존 실리콘(Si) 대비 고전압·고주파수 특성으로 5세대·6세대 이동통신(5G·6G), 위성통신, 각종 무기 체계의 레이더, 안티 드론 등 다양한 산업에서 수요가 늘고 있다.
큐알티는 Q-RoLA 장비 판매 뿐 아니라 자체 테스트 서비스 사업도 추진한다. 큐알티의 반도체·전자부품·이차전지 등 신뢰성 평가 역량과 시너지를 내려는 복안이다. 고객 수요에 맞춰 다양한 테스트 환경을 제공할 계획이다.
큐알티 관계자는 “회사의 수명 평가 시스템을 활용해 RF를 포함한 다양한 스트레스를 반도체 수명 테스트에 적용할 수 있다”며 “테스트 편의성과 정밀성을 보장할 것”이라고 밝혔다.
권동준 기자 djkwon@etnews.com
